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光学薄膜/光阻测量仪
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光学薄膜/光阻测量仪

光学薄膜/光阻测量仪

FILMETRICS

Filmetrics 产品轻点鼠标就能测量1纳米到3.5毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!
  • 资料说明

通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备,几秒钟之内就能测出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!

为工业界的精英们测量薄膜厚度。 在低价位膜厚测量应用上我们的测量系统有最高的占有率。 事实上我们Filmetrics是唯一能够提供满足几乎所有膜厚测量需求的产品。

 

应用领域

 

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