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光學薄膜/光阻測量儀
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光學薄膜/光阻測量儀

光學薄膜/光阻測量儀

FILMETRICS

Filmetrics 產品輕點鼠標就能測量1納米到3.5毫米的薄膜厚度。幾乎所有的材料都可以被測量。直觀的設計意味著您能在幾分鐘內完成第一個薄膜厚度測量!
  • 資料說明

通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,幾秒鐘之內就能測出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!

為工業界的精英們測量薄膜厚度。 在低價位膜厚測量應用上我們的測量系統有最高的占有率。 事實上我們Filmetrics是唯一能夠提供滿足幾乎所有膜厚測量需求的產品。

 

應用領域

 

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