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X射線熒光光譜儀
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X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀

FISCHERSCOPE? HM2000 硬度儀

     FISCHERSCOPE? HM2000 硬度儀配有HT2000測量頭,用于測量塊狀樣品及1μm以上涂層硬度的自動化納米壓痕儀。FISCHERSCOPE? HM2000是一款遵循國際標準DIN EN ISO 14577,采用儀器化壓入測試方法的自動化納米壓痕儀。采用該儀器,可測量難以對位的被測位置,十分適用于研發、質量控制、來料檢驗和過程控制等領域。
  • 資料說明

■       HT2000測量頭部件包括了壓頭、加載單元、用于判斷壓入深度位移的測量單元以及整個電子驅動系統。特別設計的觸地控制式壓頭,保證了儀器具有極小的系統柔度。 特征 ? 無需復雜樣品制備的快速測量,HM2000只需要30秒,其壓頭即可移動到測量面,并完成零位檢測。 ? 測量過程中零位實時檢測 ? 可編程XY測量平臺,可用于自動化測量 ? 用戶友好的Z軸馬達驅動控制 ? 用于精確定位的三種放大倍率的顯微鏡 ? 大理石框架結構保證幾何穩定性,減少熱漂移和震動影響 ? 測量暗表面,樣品無需進行預處理 ? 由于HT2000測量頭出色的熱穩定性,精確測量材料蠕變的時間最多可達數小時。

 

應用領域
■ 典型的應用領域: 

? 涂料、塑料或硬質合金涂層(PVD、CVD)
? 電鍍層(裝飾性、功能性) 
? 硬質氧化層材料表征 
? 醫用材料 
? 電子零部件、接插件、焊線等 
? 離子鍍涂層

 

CT(可選項)

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